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加速(su)壽命老化試驗(yan)(yan)箱本儀器適(shi)用于國(guo)防、航(hang)天、汽車(che)部件、電子零(ling)配件、塑(su)膠、磁(ci)(ci)鐵行業(ye)、制(zhi)藥線路板(ban)，多層線路板(ban)、IC、LCD、磁(ci)(ci)鐵、燈飾、照(zhao)明制(zhi)品(pin)(pin)(pin)等產品(pin)(pin)(pin)之密封性能的(de)檢測，相關之產品(pin)(pin)(pin)作(zuo)加速(su)壽命試驗(yan)(yan)，使用于在產品(pin)(pin)(pin)的(de)設計階段(duan),用于快速(su)暴露產品(pin)(pin)(pin)的(de)缺陷和薄弱環節。

PCT小型高(gao)壓(ya)老化試驗箱采用(yong)7寸微電腦(nao)控制(zhi)飽和蒸氣溫(wen)(wen)度(du)(du)、微電腦(nao) P.I.D 自(zi)動演算(suan)控制(zhi)飽和蒸氣溫(wen)(wen)度(du)(du)。

PCT加(jia)速壽命老化試驗(yan)(yan)箱適用(yong)于國防、航天、汽車部(bu)件、電子零配件、塑膠(jiao)、磁鐵(tie)行業、制(zhi)(zhi)藥(yao)線路(lu)板，多層線路(lu)板、IC、LCD、磁鐵(tie)、燈(deng)飾、照明(ming)制(zhi)(zhi)品等產品之密封性能的(de)(de)檢測(ce)，相關(guan)之產品作加(jia)速壽命試驗(yan)(yan)，使用(yong)于在產品的(de)(de)設計階段,用(yong)于快(kuai)速暴露產品的(de)(de)缺(que)陷和薄弱(ruo)環節。測(ce)試其制(zhi)(zhi)品的(de)(de)耐厭性，氣密性。

高壓加速壽命老化試(shi)(shi)驗箱：適用(yong)(yong)(yong)于(yu)(yu)國防、航天、汽車部件(jian)(jian)、電(dian)子零(ling)配件(jian)(jian)、塑膠、磁(ci)鐵(tie)行(xing)業、制(zhi)藥線(xian)路(lu)板，多層線(xian)路(lu)板、IC、LCD、磁(ci)鐵(tie)、燈飾、照明制(zhi)品等產品之(zhi)密封性能的(de)檢測(ce)，相(xiang)關(guan)之(zhi)產品作加速壽命試(shi)(shi)驗，使用(yong)(yong)(yong)于(yu)(yu)在產品的(de)設計(ji)階段,用(yong)(yong)(yong)于(yu)(yu)快速暴露產品的(de)缺陷(xian)和(he)薄(bo)弱環(huan)節。測(ce)試(shi)(shi)其(qi)制(zhi)品的(de)耐(nai)厭(yan)性，氣密性。

PCT高壓加速(su)老化(hua)實驗箱(xiang)是測試IC、LED節(jie)能、光(guang)伏、磁鐵、線路板、電子零(ling)部件(jian)等行業在產品(pin)(pin)設計(ji)及成(cheng)品(pin)(pin)階段，用于快速(su)暴露產品(pin)(pin)的缺陷(xian)和(he)薄弱環節(jie)。

PCT高壓(ya)加速老化(hua)試驗(yan)機適(shi)用于(yu)國防、航天、汽(qi)車部件、電子零配件、塑膠、磁(ci)鐵行業、制藥線(xian)路板(ban)，多層線(xian)路板(ban)、IC、LCD、磁(ci)鐵、燈飾、照(zhao)明制品(pin)等產品(pin)之(zhi)密(mi)封性(xing)(xing)能的(de)檢測，相關之(zhi)產品(pin)作加速壽命試驗(yan)，使(shi)用于(yu)在產品(pin)的(de)設計階段,用于(yu)快速暴露產品(pin)的(de)缺(que)陷和(he)薄弱環節。測試其制品(pin)的(de)耐厭性(xing)(xing)，氣密(mi)性(xing)(xing)。